下面是小编整理的透射光谱法测试薄膜的光学参数，本文共9篇，希望对大家有所帮助。
篇1：透射光谱法测试薄膜的光学参数
透射光谱法测试薄膜的光学参数
推导了使用透射光谱极值法来确定薄膜光学参数的理论公式,并对溶胶-凝胶法制作的掺不同浓度二氧化锡的二氧化硅薄膜的折射率和厚度进行了计算.由于透射光谱法来确定薄膜的光学参数时需要其有一定的厚度来形成干涉峰,而用溶胶凝胶浸渍法单次提拉的薄膜厚度太薄,因此用多次提拉的方法来增加厚度.最后借助于柯西色散公式,在其它波段对折射率进行了拟合.结果表明,薄膜的`折射率随着二氧化锡含量的增加而增加,相同提拉次数的薄膜厚度也基本相同.
作 者：顾晓明 贾宏志 王铿 朱一 GU Xiaoming JIA Hongzhi WANG Keng ZHU Yi 作者单位：上海理工大学,光电信息与计算机工程学院,上海,93 刊 名：光学仪器 ISTIC英文刊名：OPTICAL INSTRUMENTS 年，卷(期)： 31(2) 分类号：O484.5 关键词：透射光谱 薄膜 光学参数 折射率篇2：氮化铝薄膜光学常数和结合力测试分析
氮化铝薄膜光学常数和结合力测试分析
用直流磁控溅射方法在硅衬底上制备氮化铝薄膜.X射线衍射仪和X射线光电子能谱仪分析了薄膜的结构和成分;椭圆偏振仪测量并拟合获得AIN薄膜在250～1000 nm波长范围内的折射率和消光系数曲线;利用大荷载划痕仪的声发射谱检测方法并结合不同压力下的划痕显微形貌观察得到薄膜临界载荷(结合力)Lc为29.45N.
作 者：杨清斗 刘文 王质武 卫静婷 YANG Qing-dou LIU Wen WANG Zhi-wu WEI Jing-ting 作者单位：深圳大学光电子学研究所,广东省光电子器件与系统重点实验室,深圳,518060;深圳大学光电子器件与系统教育部重点实验室,深圳,518060 刊 名：硅酸盐通报 ISTIC PKU英文刊名：BULLETIN OF THE CHINESE CERAMIC SOCIETY 年，卷(期)： 26(5) 分类号：O484 关键词：氮化铝薄膜 椭圆偏振仪 消光系数 划痕仪 结合力篇3：如何测试软硬盘驱动器参数
如何测试软硬盘驱动器参数
一、如何测试驱动器类型随着PC硬件的高速发展,各种应用软件对外设的要求亦不断提高,这使得有些软件的设计者在开发软件时需要对主机的配套设备进行检查,以便能更好地利用这些设备。如对处理器CPU及协处理器的检测、对驱动器的检测等等。对于上述的测试,除CPU及协处理器的测试方法已有不少文章论述过外,还很少有对驱动器测试的论述。本文将详细介绍如何测试驱动器,并给出相应的子程序源码,读者可根据需要将其变成一独立程序,也可将其加入到自己的应用程序中去。
在提供的测试驱动器子程序中,使用了DOS INT 21h 的`设备管理功能调用 44XXh(IOCTL)的两个子功能:AX=4409h 和AX=440Dh。通过对What-Drv子程序的调用,可得到指定驱动器的类型。该测试子程序的调用方式为:
输入:AL=驱动器标号(A,B,C,...)
程序:CALL What-Drv
输出:CF= 0 成功
AL= 驱动器类型(提供之源码中有各种类型说明)
DS:DX= Device-Params读取参数缓冲区,共有32Bytes长度
CF= 1失败
AX=错误代码
1.测试指定驱动器状态
本子功能是测试所指定驱动器是否为单机或网络之共享状态输入:AX= 4409h
BL= 0,1,2,...(0=defult,1=A,2=B,3=C,...)
中断:INT 21h
输出:CF= 0成功
DX=返回状态(这里仅讨论DX寄存器的Bit12,在返回的参数中,DX还有其它许多状态值,本节将不在此讨论)
若Bit12=0,则为单机状态
Bit12=1,则为服务器共享状态
CF= 1失败
AX=错误代码
2.读取指定驱动器参数
本子功能将读出指定驱动器的各种参数,包括驱动器类型、文件分配表FAT大小,根目录ROOT大小,及其它BPB各种磁盘参数。本子程序仅读取驱动器类型参数。
输入:AX= 440Dh,
BL= 0,1,2,...(0=defult,1=A,2=B,3=C,...)
CX= 0860h 这里 CH=08h表示磁盘驱动器
CL=60h表示读取驱动器参数
DS∶DX=Device-Params指向读取参数缓冲区,共有32 Bytes长度
中断:INT 21h
输出:CF= 0成功
DS∶DX=缓冲区包含读出驱动器参数
CF= 1失败
AX=错误代码
3.磁盘参数区
表1为一130mm 1.2MB的软盘驱动器参数信息(共32字节长度)。
@@08a08600.GIF;表1@@
4.测试驱动器源码(程序1)
程序1:
;------------
; Check Drive Type
;Input: AL=Can be any drive letter(A,B,C..)
;Output: CF=0 Successfully
; AL=drive type will be returned as an
; ERRORLEVEL.
; DS∶DX=Pointer to parameter block
; CF=1 Failed
; all registers restored.
;-----------------
; ERRORLEVEL Result
; --------------
; -1Drive isn′t local
; 0320K/360K 130mm.drive
; 11.2M 130mm.drive
; 2720K 90mm.drive
; 3Single-density 203mm.drive
; 4Double-density 203mm.drive
; 5Hard disk
; 6Type drive
; 71.44M drive
; 8Something else
;------------;
What-drv proc near
push cx ;save registers
push bx
mov bl,al
and bl,lfh ;bl=0,1,2..
mov ax,4409h
;Check workstation /server
push bx
int 21h
pop bx
jb What-error ;Error to exit
test dh,10h ;test server?
jz What-continue
mov al,-1
jmp short What-Exit
What-continue:
mov ax,440dh
mov cx,0860h
;Get device paramters
push cs
pop ds
mov dx,offset Device-params
int 21h
jb What-error ;Error to exit
mov al,[Device-Params+1]
;Get device type
What-Exit:
clc ;Successfully flag
What-error:
pop bx ;recover registers
pop cx
retn
What-drv endp
Device-Params db 32 dup(0)
二、读取硬盘参数
硬盘是主机重要的存储设备,不同厂家,不同大小的硬盘参数均不相同。这里所说的硬盘参数是:磁头数、簇面数和扇区数。本节将给出一个读取硬盘参数的子程序(不含逻辑,即将一个大硬盘分成两个以上分区。当然读者也可修改本程序,以便能识别两个以上分区的硬盘)。在下面的程序中,将首先读取硬盘的主引导区 Master boot record,因为所有的硬盘参数都存放在里面。程序流程如下:
(1) 将指定的物理硬盘主引导区读入缓冲区
(2) 在引导区偏移地址1BEh处获取相应的硬盘参数
(3) 通过计算求得该硬盘的磁头数、簇面数和扇区数
(4) 由得到的硬盘参数求得其容量大小
Get-FdiskParam 子程序调用方式为:
输入:AL=硬盘物理ID号(80h 或 81h)
程序:CALL Get-FdiskParam
输出:CF=0成功
AX= 硬盘容量大小(Hex)
CX= 簇面数
DL=扇区数
DH=磁头数
CF=1 失败
1.硬盘分区表参数
在硬盘主引导区的1BEh位置即为硬盘分区表参数区,一个硬盘最多只能分成四个逻辑分区,每个分区参数表占10 h Bytes长度。本节为方便起见,仅设定硬盘为一个分区的情况,至于多分区情况,请
读者通过修改本程序亦可获得。这里以162MB硬盘主引导区中的分区表参数为例。
@@08A08601.GIF;表2 硬盘分区表参数@@
由参数表可查出:磁头数=15,簇面数=1010,扇区数=22
2.硬盘容量计算
通过分区表的参数,还可求得硬盘的容量大小。在提供的程序中对硬盘容量的计算均按16进制方式:
硬盘容量(MB)=磁头数×簇面数×扇区数×512/1024为精简程序,笔者在计算时舍掉了许多余数(舍掉较多,仅保留整数),故此计算得来的容量与实际容量有些差异,请读者引用时注意。
3.读硬盘参数源码(程序2)
程序2:
;----------------
;Get Hard Cyls,Sector,Head,Size
;Input:AL= Fdisk ID(80h,81h)
;Output: CF= 0 successfully
;AX= Fdisk size(Hex)
;CX= Number of Cylinders
:DL= Number of Sectors
;DH= Number of Heads
;CF= 1 failed
;-------------
Get-Fdiskparamproc near
cmp al,80h ;test Fdisk ID
jb Get-FdiskExit
mov cx,cs
mov ds,cx
mov es,cx ;set DS,ES segment
mov dl,al ;Fdisk ID
mov bx,offset Partition-area
mov cx,1
mov dh,0
mov ax,201h ;read partition sector
int 13h
jb Get-FdiskExit ;failed to exit.
mov bx,offset Partiton-area+1beh
mov al,[bx+8] ;Sector counter
mov ah,[bx+5] ;Head counter
mov dl,[bx+7] ;cylinder lower
mov dh,[bx+6] ;cylinder high
mov cx,6
shr dh,cl
inc dx ;get cylinder
push dx ;save cylinder
push ax ;save head & sector
mul ah ;compute Fdisk size
mul dx
mov cx,11
Loop-shift:
shr dx,1
rcr ax,1
loop Loop-shift ;Get Fdisk size
pop dx ;sectors & heads
pop cx ;cylinder counter
clc ;clear CF flag
Get-FdiskExit:
retn
Get-FdiskParamendp
Partition-area db 512 dup(0) ;read Partition buffer
篇4：LED光学参数测试方法研究
LED光学参数测试方法研究
通过分析LED(发光二极管)发光机理和封装特点,选择了LED需要测试的光学参数:光通量、亮度、发光强度、空间光强分布、相对光谱功率分布及色度,进而研究了每个光学参数的.特点.根据其特点,制定了每个光学参数的测试原理以及相应的计算公式,最终确定了各参数的测试方法.设计了LED光通量测量系统、亮度和发光强度测量系统、发散角及空间光强分布测量系统、相对光谱功率分布及色度测量系统.实际应用表明:这些系统均能满足目前工作需要.
作 者：吴宝宁 李宏光 俞兵 曹锋 邝自力 WU Bao-ning LI Hong-guang YU Bing CAO Feng KUANG Zi-li 作者单位：吴宝宁,李宏光,俞兵,曹锋,WU Bao-ning,LI Hong-guang,YU Bing,CAO Feng(西安应用光学研究所,国防科工委光学计量一级站,陕西,西安,710065)邝自力,KUANG Zi-li(西安通信学院,数理教研室,陕西,西安,710106)
刊 名：应用光学 ISTIC PKU英文刊名：JOURNAL OF APPLIED OPTICS 年，卷(期)： 28(4) 分类号：O432.2-34 关键词：发光二极管 测试方法 光通量 光强分布 色度篇5：飞行试验冲击参数测试技术研究
飞行试验冲击参数测试技术研究
飞行试验的参数测试涉及到传感器、采集器以及记录器等许多环节,任何环节出现问题都会给最终的.测试结果带来误差,因此,需要对每一环节进行认真分析、试验.针对3种飞行试验冲击参数测试系统进行分析、试验和对比,最终设计出满足飞行试验需求的冲击参数测试系统.
作 者：姜宏伟 袁朝辉 赵向东 JIANG Hong-wei YUAN Zhao-hui ZHAO Xiang-dong 作者单位：姜宏伟,袁朝辉,JIANG Hong-wei,YUAN Zhao-hui(西北工业大学,自动化学院,陕西,西安,710072)赵向东,ZHAO Xiang-dong(中国飞行试验研究院,陕西,西安,710089)
刊 名：测控技术 ISTIC PKU英文刊名：MEASUREMENT & CONTROL TECHNOLOGY 年，卷(期)： 29(6) 分类号：V417 关键词：冲击 采样频率 参数测试篇6：也谈硬盘参数测试t2gg
也谈硬盘参数测试t2gg
IDE(Integrated Drive Electronics)有时也被称为ATAPI型控制器。此种控制器速度快,集 成度高,在PC机中应用广泛。我们可以通过一些IDE控制命令来完成硬盘的读/写/校验等各种操作。本文仅介绍其中的硬盘测试命令--0ECH。表1列出了IDE控制器的端口寄存器分配及功能,其中“主状态寄存器”(1F7H)的各位定义如表2。
表1 IDE端口寄存器地址及功能表2
“硬盘控制寄存器”(3F6H)各位定义如表3。
表3
输出IDE控制命令可采用下列步骤:
(1)向端口3F6H写入控制字节,建立相应的硬盘控制方式;
(2)检验控制器和驱动器的状态(通过检测端口1F7H的B7、B6两位),若控制器空闲且驱动器就绪,即可输出命令;
(3)完整地输出7B长的命令块,依次写入端口1F1H-1F7H,不论是否需要,端口1F1H-1F6H对应的前6B参数必须输出,端口1F7H输出命令码0ECH;
(4)检测端口1F7H的B7、B3位,若控制器空闲且B3置1,表示操作结束,即可读取结果;
(5)通过端口1F0H独取100H字至缓冲区;
(6)再次读取端口1F7H,判断B0位是否为0,若B0=0,表示命令成功,否则表示命令失败,转至错误处理;
(7)通过表4所示的偏移量,读取我们所需的信息并转换成可显示的信息。
表4
源程序如下。
.MODEL SMALL
.286
.DATA
copydb 'IDE hard drive identify program 1.0',0dh,0ah
db 'Copyright (c) 1995 by LiChunsheng',0dh,0ah
db 'All rights reserved.'
db 0dh,0ah,0ah,'Model Number......'
iofm dw 14h dup(h)
db 0dh,0ah,'Firmware Revision....'
dw 4 dup(2020h)
db 0dh,0ah,'Serial number......'
dw 0ah dup(2020h)
db 0ah
db 0dh,0ah,'Cylinders......'
nofcdb 5 dup(20h)
db 0dh,0ah,'Heads......'
db 5 dup(20h)
db 0dh,0ah,'Sectors per track...'
db 5 dup(20h)
db 0dh,0ah,'Bytes per track....'
db 5 dup(20h)
db 0dh,0ah,'Bytes per sector....'
db 5 dup(20h)
db 0dh,0ah,'Buffer size(KB).....'
db 5 dup(20h)
db 0dh,0ah,'ECC bytes......'
db 5 dup(20h)
db 0dh,0ah,'Drive capacity......'
db 5 dup(20h)
db 'MB',24h
addrdb 2,6,12,8,10,42,44
addr1dw 36h,14h,2eh,04h,14h,0ah
cmddb 0,0,0,0,0,0,0ech
hdinfodw 100h dup(?)
t-o-msg db 'Time out of range!!!',0dh,0ah,24h
errmsg db 'Error!!!',0dh,0ah,24h
.CODE
dec160PROC
push di
push dx
push cx
push ax
mov al,20h
std
cmp d
[1] [2]
篇7：磁性薄膜电磁参数测试技术
磁性薄膜电磁参数测试技术
扼要介绍了近国内外在磁性薄膜材料电磁参数测试方法的概况及技术特点,这些方法主要包括带状线法、微带线法、波导法及共面波导法、终端阻抗及短路法和谐振腔法.
作 者：陈雪飞 郭高凤 周扬 李恩 作者单位：电子科技大学电子工程学院,成都,611731 刊 名：宇航材料工艺 ISTIC PKU英文刊名：AEROSPACE MATERIALS & TECHNOLOGY 年，卷(期)： 40(2) 分类号：V2 关键词：磁性薄膜 电磁参数 网络参数法 谐振腔法 Magnetic thin film Electromagnetic parameters Network parameter method Resonant cavity method篇8：用光谱法测试相位光栅层的厚度
用光谱法测试相位光栅层的厚度
按傅里叶光学,当平面波通过光栅时,不同级次的衍射角和强度由光栅而定,根据光栅的.衍射频谱可以反推出光栅本身的多种信息.一个新的方法就是选用不同级次的功率谱来测量相位光栅的深度.对3块光栅进行了测试,并给出计算的光栅深度.同时给出6块光栅的测试结果--多级衍射强度,结果表明误差值不大于5%.
作 者：曹向群 连华 李何立 作者单位：浙江大学国家光学仪器工程技术研究中心,杭州,3l0027 刊 名：中国激光 ISTIC EI PKU英文刊名：CHINESE JOURNAL OF LASERS 年，卷(期)： 31(z1) 分类号：O438.2 关键词：相位光栅 测试 衍射谱篇9：305光学胶合剂透射光谱的测试研究
305光学胶合剂透射光谱的测试研究
选用岛津UV-3101PC型分光光度计和岛津IP-460红外分光光度计分别测量200-2500 nm和2500-17000 nm波段上305胶合剂的透射光谱,并与冷杉胶、甘油、加拿大树胶等几种常见的光学胶合剂的透射曲线进行了比较.经过比较得出在测试波段上,305胶合剂具有高的.透射比和宽的透射带宽,具有广泛的应用前景.
作 者：邵俊平吴福全 郝殿中 SHAO Jun-ping WU Fu-quan HAO Dian-zhong 作者单位：曲阜师范大学激光研究所,273165,山东省曲阜市 刊 名：曲阜师范大学学报(自然科学版) ISTIC英文刊名：JOURNAL OF QUFU NORMAL UNIVERSITY(NATURAL SCIENCE) 年，卷(期)：2009 35(2) 分类号：O436 关键词：305胶合剂 BaF2晶体夹具 透射光谱
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